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电子产品可靠性预计与分析

电子产品可靠性预计与分析

课程编号：595

课程价格：￥0/天

课程时长：1 天

课程人气：3783

行业类别：机械行业     

专业类别：生产管理 

授课讲师：

  • 课程说明
  • 讲师介绍
  • 选择同类课
【培训对象】
电子产品质量检测员

【培训收益】


一、可靠性常用的度量指标及其测量
1、常用的可靠性指标
　　可靠度、不可靠度、瞬时失效率、保证寿命、平均寿命、特征寿命、中位寿命、平均修复时间、
有效度。 

2、电子产品常用寿命分布类型及其指标分析
2.1 指数分布、正态分布、对数正态分布、威布尔分布
2.2 不同分布类型时可靠性指标的计算 

3、可靠性模型
3.1串联系统　并联系统、r/n系统、串并系统。
3.2　用可靠性模型改进产品的案例
案例1　电源系统的改进
案例2　复杂大系统的可靠性模型选择
4、电子产品返修率、年停机时间（Downtime）与失效率、保证寿命、可靠度、MTBF、的关系。
 
5、客户要求的可靠性指标分解方法
　　案例1 要求累积故障率的情况
　　案例2　要求年维修率的指标分析 

6、可靠性指标的试验测定
案例1　已知置信度和MTBF时的实验测定
案例2　已知置信度和可靠度时的实验测定
案例3　案例加速寿命实验测定法 

二、可靠性预计
1、可靠性指标预计概述
1.1可靠性预计的目的意义
1.2可靠性预计的常用标准（GJB、MIL、Bellcore）
1.3 常用的可靠性预计方法 

2、基于国军标和美军标的可靠性预计
2.1 可靠性预计系数的选取
　基本失效率、环境系数、质量系数、应用系数、结构系数、温度系数、复杂度系数、封装系数等。
2.2案例　微电路可靠性预计，包括：
A.半导体单片双极及MOS数字电路；
B.半导体单片双极及MOS模拟电路；
C.半导体单片双极及MOS微处理器；
D.半导体单片双极、MOS存储器；
2.3案例　半导体器件的可靠性预计
包括双极、场效应晶体管、二极管和光电子器件
2.4 计数法可靠性预计
2.5 应力分析法的可靠性预计
2.6 案例　系统及设备可靠性预计预计举例 

3、贝尔实验室（Bellcore）TR332可靠性预计
3.1 元器件恒定失效率预计
3.1.1 基本恒定失效率预计
3.1.2 等效时间计算
3.1.3 首年因子计算
3.2 结合试验数据的修正预计法
3.2.1 元器件已经过试验室测试
3.2.2　单元已经过试验室测试
3.3 结合现场数据预计法
导引内容：可靠性模型的建立与分析
可靠性模型的建立是可靠性分析的第一步，能否建立正确的可靠性模型，对于分析产品可靠性
指标，指导产品可靠性设计，开展相关试验十分重要，主要包括下列内容：
a 常用的可靠性模型
b 可靠性模型的建立
c　 用可靠性模型改进产品和中标的案例 

1　故障模式、影响及危害度分析 （FMEA）
1.1 FMEA的意义和作用
运载火箭的案例分析
1.2 　FMEA的分类（系统FMEA、设计FMEA和工艺FMEA）
1.3 　FMEA的实施步骤
1.3.1 绘制分级功能框图
1.3.2 失效模式频数比
1.3.3 失效模式影响
1.3.4 失效率
1.3.5 失效模式危害度
1.3.6 危害度（性）矩阵 

1.4　FMECA的标准方法1.5　报警器的FMEA分析案例
1.6　QS 9000的FMECA方法
1.7 分析案例
1.8　影响FMECA工作效果的因素 

2 故障树分析（FTA）技术
2.1 概述
2.2 故障树的基础
2.3 FTA的实施步骤
（1） 故障树的建造；
（2）故障树的划简；
（3） 定性分析；
（4） 定量计算；
（5） 改进措施。
2.4 压力罐控制电路的故障树分析实例 

3 故障报告、分析和纠正措施系统(FRACAS)
3.1 建立FRACAS系统
3.2 运行FRACAS
3.3 FRACAS的关键点分析
3.4 双归零的现实意义
3.5 部分工业部门实施FRACAS的经验

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